6.外部短路保护

环境温度为20±10℃或更高温度（如制造商要求）；试验开始时，被测设备SOC应为50%以上；试验开始时，所有与试验结果相关的、影响被测设备功能的所有保护装置均应运行。

试验开始时，所有用于充电和放电的相关主接触器都应闭合，以表示可能的主动驱动模式以及实现外部充电的模式。如果一次测试无法完成，则应进行两次或更多次测试。

被测设备的正极和负极应相互连接以产生短路。用于此目的的连接电阻应不超过5mΩ（短路电阻需要记录）。

短路条件应持续到确认REESS中断或限制短路电流的保护功能运行为止，或在被测设备外壳上测得的温度稳定后至少一小时，使温度梯度变化在1小时内小于4°C。

短路终止后，应进行标准放电和标准充电（如果不受被测设备的阻碍）

试验应以在试验环境温度下进行1小时的观察期结束。

对于高压REESS，试验后测得的绝缘电阻不得小于100Ω/V

试验中，不得出现：

• 电解质泄漏；

• 破裂(仅适用a于高压REESS)；

• 着火；

• 爆炸

电解质泄漏的证据应通过目视检查加以验证，而无需拆卸被测设备的任何部分

7.过充保护

环境温度为20±10℃或更高温度（如制造商要求）；试验开始时，所有与试验结果相关的、影响被测设备功能的所有保护装置均应运行。

开始时，所有用于充电的主接触器应闭合。

应禁用试验设备的充电控制限值。

被测设备应以至少1/3C的充电电流充电，但不得超过制造商规定的正常工作范围内的最大电流。

充电应持续进行，直到被测设备（自动地）中断或限制充电为止。如果自动中断功能无法运行，或者没有自动中断功能，则应继续充电，直到被测设备充电到其额定容量的两倍。

充电终止后，应进行标准放电和标准充电（如果不受被测设备的阻碍）

试验应以在试验环境温度下进行1小时的观察期结束。

对于高压REESS，试验后测得的绝缘电阻不得小于100Ω/V

试验中，不得出现：

• 电解质泄漏；

• 破裂(仅适用于高压REESS)；

• 着火；

• 爆炸

电解质泄漏的证据应通过目视检查加以验证，而无需拆卸被测设备的任何部分

8.过放电保护

环境温度为20±10℃或更高温度（如制造商要求）；试验开始时，所有与试验结果相关的、影响被测设备功能的所有保护装置均应运行。

试验开始时，所有相关的主接触器应闭合。

放电应以至少1/3C的速率进行，但不得超过制造商规定的正常工作范围内的最大电流。

放电应持续到被测设备（自动地）中断或限制放电为止。如果自动中断功能无法运行，或者没有自动中断功能，则应继续放电，直到被测设备放电到其额定电压的25％为止。

放电终止后，被测设备应进行标准充电（如果不受被测设备的阻碍）

试验应以在试验环境温度下进行1小时的观察期结束。

对于高压REESS，试验后测得的绝缘电阻不得小于100Ω/V

试验中，不得出现：

• 电解质泄漏；

• 破裂(仅适用于高压REESS)；

• 着火；

• 爆炸

电解质泄漏的证据应通过目视检查加以验证，而无需拆卸被测设备的任何部分

9.过温保护

如果REESS装有冷却功能，且REESS在冷却系统不工作的情况下仍能正常工作，则应在试验中停用冷却系统。

试验期间，应在电池附近的外壳内连续测量被测设备的温度，以监测温度的变化。可以使用车载传感器(如有)。制造商和技术服务部门应就使用的温度传感器的位置达成一致。

试验开始时，所有与试验结果相关的、影响被测设备功能的所有保护装置均应运行，除了停用的冷却系统。

在试验过程中，应使用稳定电流对被测设备进行连续充电和放电，该稳定电流将在制造商规定的正常工作范围内使电池温度尽快升高。

被测设备应放置在对流烘箱或环境试验舱中。试验箱或烘箱的温度应逐渐升高，直至达到下述两种情况适用的温度，然后保持在等于或高于此的温度下，直到试验结束。

a.如果REESS配备了防止内部过热的保护措施，则应将温度提高到制造商定义的此类保护措施的工作温度限值的温度，以确保被测试设备的温度将按照规定升高。

b.如果REESS没有配备任何防止内部过热的具体措施，则应将温度提高到制造商规定的最高工作温度。

当观察到以下情况之一时，试验将结束：（a）被测设备禁止和/或限制充电和/或放电以防止温度升高； （b）被测设备的温度稳定，这意味着在2个小时内温度梯度变化小于4°C； （c）未能达到下一页规定的接受标准。

试验中，不得出现：

• 电解质泄漏；

• 破裂(仅适用于高压REESS)；

• 着火；

• 爆炸

电解质泄漏的证据应通过目视检查加以验证，而无需拆卸被测设备的任何部分。

对于高压REESS，试验后测得的绝缘电阻不得小于100Ω/V